Filter

Showing 1–12 of 17 results

Filter

Find device
Manufacturer
Product portfolio

Thin films & Surface Engineering

HPR-60

HPR-60 MBMS

for Analysis of Neutrals, Neutral Radicals and Ions
Find out more
Compact SIMS

Compact SIMS

Compact SIMS instrument optimised for depth profiling at the nanometer scale
Find out more
Hệ thống phân tích chùm phân tử XBS RC

XBS

A system for multiple source monitoring in MBE deposition applications
Find out more
Máy phân tích phổ khối ion thứ cấp được bơm vi sai IMP-EPD

IMP-EPD

A system for ion etch control and optimum process quality
Find out more
Máy phân tích khối lượng và năng lượng để nghiên cứu plasma

PSM

A mass and energy analyser for plasma diagnostics
Find out more
Hệ thống phân tích khối lượng tứ cực cho giám sát quá trình và chuẩn đoán chân không

HMT

A quadrupole mass spectrometer for process monitoring and vacuum diagnostics
Find out more
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

A 5keV Argon or Oxygen ion source for UHV surface analysis applications
Find out more
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Innovative Time of Flight Quadrupole SIMS System
Find out more
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Automatic Surface Analysis System
Find out more
Hệ thống nghiên cứu giải hấp nhiệt độ lập trình chân không cao

TPD Workstation

A system for UHV temperature programmed desorption (TPD/TDS) studies
Find out more
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

A 5keV Caesium ion gun for UHV surface analysis applications
Find out more
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

A UHV surface analysis system for thin film depth profiling
Find out more
error: Content is protected !!