Filter

Showing all 7 results

Filter

Find device
Manufacturer
Product portfolio

Surface Analysis

Compact SIMS

Compact SIMS

Compact SIMS instrument optimised for depth profiling at the nanometer scale
Find out more
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

A 5keV Argon or Oxygen ion source for UHV surface analysis applications
Find out more
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Innovative Time of Flight Quadrupole SIMS System
Find out more
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Automatic Surface Analysis System
Find out more
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

A 5keV Caesium ion gun for UHV surface analysis applications
Find out more
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

A UHV surface analysis system for thin film depth profiling
Find out more
Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động

MAXIM

A system for static and dynamic SIMS and SNMS applications
Find out more
error: Content is protected !!