Lọc

Hiển thị 13–17 của 17 kết quả

Bộ lọc

Tìm thiết bị
Hãng sản xuất
Danh mục sản phẩm

Kỹ thuật bề mặt và màng mỏng

HPR-60

HPR-60 MBMS

Khối phổ thu mẫu chùm phân tử cho phép phân tích ion và các gốc tự do
tìm hiểu thêm
Compact SIMS

Compact SIMS

Tối ưu hóa phân tích thành phần theo chiều sâu ở phạm vi nanomet
tìm hiểu thêm
Hệ thống phân tích chùm phân tử XBS RC

XBS

Hệ thống giám sát tốc độ lắng đọng MBE
tìm hiểu thêm
Máy phân tích phổ khối ion thứ cấp được bơm vi sai IMP-EPD

IMP-EPD

Kiểm soát quá trình khắc ion và tối ưu hóa chất lượng xử lý
tìm hiểu thêm
Máy phân tích khối lượng và năng lượng để nghiên cứu plasma

PSM

Máy khối phổ thu mẫu Plasma
tìm hiểu thêm
Hệ thống phân tích khối lượng tứ cực cho giám sát quá trình và chuẩn đoán chân không

HMT

Hệ thống RGA chế độ kép dùng trong chuẩn đoán chân không và giám sát quá trình
tìm hiểu thêm
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

Bộ nguồn ion sơ cấp Argon hoặc Oxi 5keV cho hệ SIMS trong phân tích bề mặt ở chân không siêu sâu
tìm hiểu thêm
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Hệ thống khối phổ tứ cực ion thứ cấp thời gian bay
tìm hiểu thêm
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Hệ thống phân tích bề mặt tự động
tìm hiểu thêm
Hệ thống nghiên cứu giải hấp nhiệt độ lập trình chân không cao

TPD Workstation

Nghiên cứu giải hấp theo chương trính nhiệt độ ở điều kiện chân không siêu sâu
tìm hiểu thêm
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

Bộ nguồn ion sơ cấp Xesi 5keV dùng cho hệ SIMS trong phân tích bề mặt ở chân không siêu sâu
tìm hiểu thêm
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

Hệ thống phân tích bề mặt UHV để lập hồ sơ độ sâu màng mỏng
tìm hiểu thêm

ĐĂNG KÝ NHẬN NỘI DUNG

Quý Khách hàng đang có nhu cầu cần sao chép nội dung, vui lòng để lại thông tin, chúng tôi sẽ phản hồi trong thời gian sớm nhất. Trân trọng cảm ơn!