Compact SIMS

Công cụ Hiden Compact SIMS được thiết kế để phân tích nhanh và dễ dàng cấu trúc lớp, nhiễm bẩn bề mặt và tạp chất với khả năng phát hiện các ion dương tính nhạy bén nhờ chùm ion oxy chính và cung cấp độ nhạy đồng vị trên toàn bộ bảng tuần hoàn. Hình dạng súng ion được tối ưu hóa lý tưởng cho độ phân giải độ sâu nanomet và phân tích bề mặt gần.

Bàn xoay cho phép tải đồng thời 10 mẫu để đo vào buồng chân không được bơm khô. Máy có kích thước nhỏ gọn và cực kỳ dễ sử dụng, nó tự hào có cùng phần mềm điều khiển và hệ thống súng ion như dòng Máy trạm Hiden SIMS đầy đủ tính năng, cung cấp cấu hình độ sâu, hình ảnh 3D và 2D và dữ liệu phổ khối. Máy dò MAXIM-600P dựa trên bộ lọc khối tứ cực ba 6mm Hiden 6 cực kỳ đáng tin cậy với chức năng phát hiện ion xung. Có sẵn tùy chọn súng điện tử để phân tích các mẫu cách điện.

Ngoài SIMS, Compact SIMS còn có chức năng SNMS hữu ích cho việc định lượng các nguyên tố có nồng độ cao, chẳng hạn như hợp kim.

Tính năng

• Kích thước nhỏ gọn
• Giao diện thân thiện với người dùng
• Chỉ cần nguồn điện một pha (dưới 10A)
• Thiết kế có bánh xe
• SIMS và SNMS dương tính
• Đo độ sâu
• Đặc tính và hình ảnh 3D
• Phổ khối lượng
• Phân tích đồng vị
• Phân tích ở thang nanomet