Compact SIMS

Tối ưu hóa phân tích thành phần theo chiều sâu ở phạm vi nanomet

Compact SIMS được thiết kế để phân tích nhanh và dễ dàng cấu trúc lớp, thành phần ô nhiễm bề mặt và tạp chất với khả năng phát hiện các ion dương nhạy nhờ chùm ion oxy chính và cung cấp độ nhạy đồng vị trên toàn bảng tuần hoàn. Hình dạng của súng ion được thiết lập để cung cấp độ phân giải độ sâu nanomet và phân tích bề mặt gần.

Ứng dụng

  • Sự nhiễm bẩn của Silicone
  • Lớp phủ quang học màng mỏng
  • Vật liệu điện tử
  • Pin mặt trời linh hoạt
Danh mục:

Công cụ Hiden Compact SIMS được thiết kế để phân tích nhanh và dễ dàng cấu trúc lớp, nhiễm bẩn bề mặt và tạp chất với khả năng phát hiện các ion dương tính nhạy bén nhờ chùm ion oxy chính và cung cấp độ nhạy đồng vị trên toàn bộ bảng tuần hoàn. Hình dạng súng ion được tối ưu hóa lý tưởng cho độ phân giải độ sâu nanomet và phân tích bề mặt gần.

Bàn xoay cho phép tải đồng thời 10 mẫu để đo vào buồng chân không được bơm khô. Máy có kích thước nhỏ gọn và cực kỳ dễ sử dụng, nó tự hào có cùng phần mềm điều khiển và hệ thống súng ion như dòng Máy trạm Hiden SIMS đầy đủ tính năng, cung cấp cấu hình độ sâu, hình ảnh 3D và 2D và dữ liệu phổ khối. Máy dò MAXIM-600P dựa trên bộ lọc khối tứ cực ba 6mm Hiden 6 cực kỳ đáng tin cậy với chức năng phát hiện ion xung. Có sẵn tùy chọn súng điện tử để phân tích các mẫu cách điện.

Ngoài SIMS, Compact SIMS còn có chức năng SNMS hữu ích cho việc định lượng các nguyên tố có nồng độ cao, chẳng hạn như hợp kim.

Tính năng

  • Kích thước nhỏ gọn
  • Giao diện thân thiện với người dùng
  • Chỉ cần nguồn điện một pha (dưới 10A)
  • Thiết kế có bánh xe
  • SIMS và SNMS dương tính
  • Đo độ sâu
  • Đặc tính và hình ảnh 3D
  • Phổ khối lượng
  • Phân tích đồng vị
  • Phân tích ở thang nanomet

Hiden Compact SIMS Mass Spectrometry in solid material

Tải xuống

Hiden SIMS | Analytical Secondary Ion Mass Spectrometry Products

Tải xuống

Đánh giá sản phẩm

Review Compact SIMS

5 0% | 0 đánh giá
4 0% | 0 đánh giá
3 0% | 0 đánh giá
2 0% | 0 đánh giá
1 0% | 0 đánh giá
Đánh giá Compact SIMS
Gửi ảnh thực tế
0 ký tự (Tối thiểu 10)
    +

    Chưa có đánh giá nào.

    Chưa có bình luận nào

    Sản phẩm liên quan

    Reecotech cung cấp các sản phẩm và dịch vụ chất lượng cao, góp phần bảo vệ môi trường và phát triển bền vững.

    SIMS WORSTATION

    SIMS Workstation

    Hệ thống phân tích bề mặt UHV để lập hồ sơ độ sâu màng mỏng
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

    AutoSIMS

    Hệ thống phân tích bề mặt tự động
    tìm hiểu thêm
    EQS SIMS Analyser

    EQS SIMS Analyser

    SIMS linh động dễ dàng gắn vào hệ thống để phân tích các ion +ve và -ve thứ cấp từ mẫu rắn
    tìm hiểu thêm
    công nghệ vật liệu nano fib sims

    FIB-SIMS

    Công nghệ, vật liệu Nano
    tìm hiểu thêm
    ToF-qSIMS Workstation

    ToF-qSIMS Workstation

    Hệ thống khối phổ tứ cực ion thứ cấp thời gian bay
    tìm hiểu thêm
    EPIC 1000 Series

    EPIC / EPIC 1000 Series

    Hệ thống phân tích UHV trung tính, gốc tự do và ion
    tìm hiểu thêm
    Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

    IG5C

    Bộ nguồn ion sơ cấp Xesi 5keV dùng cho hệ SIMS trong phân tích bề mặt ở chân không siêu sâu
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động

    MAXIM

    Hệ thống SIMS/SNMS dùng cho phân tích SIMS và SNMS tĩnh và động lực
    tìm hiểu thêm
    error: Content is protected !!