FIB-SIMS

Công nghệ, vật liệu Nano

Hiden Analytical cung cấp khả năng đo phổ khối lượng ion thứ cấp (SIMS) tích hợp hiệu suất cao cho các hệ thống chùm ion hội tụ (FIB) hiện có, mang lại độ đặc hiệu bề mặt vượt trội và dải động lực cao tự nhiên để phân tích vật liệu ở quy mô nano tiên tiến. Hệ thống FIB-SIMS của chúng tôi được thiết kế để nâng cao hoạt động của bạn, từ các nhiệm vụ phát hiện thông thường đến việc chuẩn bị mẫu phức tạp.

Danh mục:

Bằng cách sử dụng chùm ion chính của hệ thống FIB hiện có, Hiden cung cấp một hệ thống phân tích FIB-SIMS chùm tia ion bám chùm hiệu suất cao. Đầu dò quadrupole SIMS Hiden EQS1000 là một thiết bị có độ nhạy cao, đặc hiệu bề mặt, có thể phát hiện tất cả các nguyên tố, từ H đến U, và lý tưởng cho ứng dụng FIB-SIMS. Dải động cao tự nhiên và tính đặc hiệu bề mặt của SIMS làm cho nó phù hợp cho cả các nhiệm vụ phát hiện thông thường, chẳng hạn như phát hiện điểm cuối trong các hoạt động phay và chuẩn bị mẫu, cũng như xác định thành phần trong phân tích hỏng hóc.

Tính năng

  • Ánh xạ bề mặt nguyên tố thang nano
  • Đo độ sâu 3D
  • Phân tích vật liệu
  • Độ nhạy và dải động tuyệt vời
  • Giao diện phần mềm tùy chỉnh
  • Chế độ “Feature MS” cho phép lấy dữ liệu phổ khối lượng từ một khu vực quan tâm cụ thể, chẳng hạn như chất gây ô nhiễm, ranh giới hạt, v.v.
  • Giải pháp gắn tùy chỉnh khả dụng cho bất kỳ hệ thống FIB nào
  • Ống kính lấy mẫu có thể thu vào cho phép vận hành mà không ảnh hưởng đến các thiết bị phân tích khác
  • Phần mềm Hiden SIMS Mapper điều khiển chùm tia FIB, lấy hình ảnh nguyên tố và độ sâu 3D trên trường nhìn của SEM để phục vụ cho kính hiển vi tương quan quy mô nano.
  • 50nm lateral resolution for surface mapping
  • 5nm depth resolution
  • Analysisof trace elements to ppm levels (thin films, semiconductors, solar cells)
  • Isotopedetection (e.g. 14N, 15N)
  • Elementalmapping and 3d depth profiling
  • Detectionof atomic and molecular ions (e.g. Si+ and SiO2+)

FIB – SIMS | Focussed Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry

Tải xuống

Đánh giá sản phẩm

Review FIB-SIMS

5 0% | 0 đánh giá
4 0% | 0 đánh giá
3 0% | 0 đánh giá
2 0% | 0 đánh giá
1 0% | 0 đánh giá
Đánh giá FIB-SIMS
Gửi ảnh thực tế
0 ký tự (Tối thiểu 10)
    +

    Chưa có đánh giá nào.

    Chưa có bình luận nào

    Sản phẩm liên quan

    Reecotech cung cấp các sản phẩm và dịch vụ chất lượng cao, góp phần bảo vệ môi trường và phát triển bền vững.

    HPR-20 OEMS

    HPR-20 OEMS

    Hệ thống khối phổ phân tích liên tục khí và hơi thoát ra trong quá trình điện hoá.
    tìm hiểu thêm
    công nghệ vật liệu nano fib sims

    FIB-SIMS

    Công nghệ, vật liệu Nano
    tìm hiểu thêm
    CATLAB-PCS

    CATLAB-PCS

    Hệ thống đo lường đặc tính xúc tác, động học và nhiệt động học
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phân tích định lượng các thành phần của khí

    QGA 2.0

    Hệ thống phân tích định lượng các thành phần của khí
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phân tích khí chuyên sâu

    HPR-20 R&D

    Hệ thống phân tích khí ứng dụng trong các nghiên cứu chuyên sâu
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phân tích khí HPR-20 TMS

    HPR-20 TMS

    Khối phổ phân tích thành phần chuyển tiếp cho các quá trình khí diễn ra nhanh
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phân tích khí HPR-20 EGA

    HPR-20 EGA

    Hệ thống phân tích khí thoát ra trong các quá trình nhiệt (TGA/MS)
    tìm hiểu thêm
    Hệ thống phân tích khí để phân tích các đồng vị hydro

    HPR-20 DLS

    Hệ thống phân tích khí để phân tích các đồng vị hydro và khí nhẹ với độ phân giải và độ nhạy cực cao
    tìm hiểu thêm
    error: Content is protected !!