Lọc

Hiển thị tất cả 7 kết quả

Bộ lọc

Tìm thiết bị
Hãng sản xuất
Danh mục sản phẩm

Phân tích bề mặt

Compact SIMS

Compact SIMS

Tối ưu hóa phân tích thành phần theo chiều sâu ở phạm vi nanomet
tìm hiểu thêm
Súng ion Argon hoặc Oxygen 5keV dành cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG20

Bộ nguồn ion sơ cấp Argon hoặc Oxi 5keV cho hệ SIMS trong phân tích bề mặt ở chân không siêu sâu
tìm hiểu thêm
ToF-qSIMS Workstation

ToF-qSIMS Workstation

Hệ thống khối phổ tứ cực ion thứ cấp thời gian bay
tìm hiểu thêm
Hệ thống phổ khối ion thứ cấp (SIMS)

AutoSIMS

Hệ thống phân tích bề mặt tự động
tìm hiểu thêm
Súng ion Caesium 5keV cho các ứng dụng phân tích bề mặt UHV

IG5C

Bộ nguồn ion sơ cấp Xesi 5keV dùng cho hệ SIMS trong phân tích bề mặt ở chân không siêu sâu
tìm hiểu thêm
SIMS WORSTATION

SIMS Workstation

Hệ thống phân tích bề mặt UHV để lập hồ sơ độ sâu màng mỏng
tìm hiểu thêm
Hệ thống máy phân tích khối phổ ion thứ cấp SIMS và SNMS tĩnh và động

MAXIM

Hệ thống SIMS/SNMS dùng cho phân tích SIMS và SNMS tĩnh và động lực
tìm hiểu thêm

ĐĂNG KÝ NHẬN NỘI DUNG

Quý Khách hàng đang có nhu cầu cần sao chép nội dung, vui lòng để lại thông tin, chúng tôi sẽ phản hồi trong thời gian sớm nhất. Trân trọng cảm ơn!